AM2954DC
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 20SBDIP
型号：
AM2954DC
制造商：
Advanced Micro Devices
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 专用逻辑
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 20SBDIP
RoHS：
YES
：
AM2954DC 规格
安装类型:
Through Hole
零件状态:
Active
工作温度:
0°C ~ 70°C
电源电压:
4.75V ~ 5.25V
位数:
8
封装 / 外壳:
20-CDIP (0.300", 7.62mm)
逻辑类型:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供应商器件封装:
20-SBDIP
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