SN74ABT18502PM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
型号：
SN74ABT18502PM
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 通用总线功能
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
RoHS：
YES
SN74ABT18502PM 规格
工作温度:
-40°C ~ 85°C
零件状态:
Active
安装类型:
Surface Mount
封装 / 外壳:
64-LQFP
供应商器件封装:
64-LQFP (10x10)
逻辑类型:
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
您可能感兴趣的产品
74ALVCH16501DGG,11
IC UNIV BUS TXRX 56-TSSOP
更多订购
74ALVCH162601DGG:1
IC UNIV BUS TXRX 56-TSSOP
$1.94
更多订购
74ALVCH16601DGG:11
IC UNIV BUS TXRX 56-TSSOP
$1.91
更多订购
74ALVCH16500DGG:11
IC UNIV BUS TXRX 56-TSSOP
$2
更多订购
74ALVCH16600DGG:11
IC UNIV BUS TXRX 56-TSSOP
$1.91
更多订购
SNJ54LVTH18502AHV
IC ABT SCN/UNIV BUS TXRX 68-CQFP
更多订购
74ALVCH162601DGGS
74ALVCH162601 - 18-BIT UNIVERSAL
$1.21
更多订购
SN74ALVC16409DL
IC UNIV BUS EXCHANGER
$1.51
更多订购
74ALVT16601DGG,118
NEXPERIA 74ALVT16601 - REGISTERE
$2.01
更多订购
SNJ54LVTH18502AHV
54LVTH18502A 3.3-V ABT SCAN TEST
$176.06
更多订购