SN74BCT8240ADWRG4
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
型号：
SN74BCT8240ADWRG4
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 专用逻辑
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
RoHS：
YES
SN74BCT8240ADWRG4 规格
零件状态:
Obsolete
安装类型:
Surface Mount
工作温度:
0°C ~ 70°C
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
封装 / 外壳:
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装:
24-SOIC
逻辑类型:
Scan Test Device with Inverting Buffers
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