SN74LVTH18502APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
型号：
SN74LVTH18502APMG4
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 通用总线功能
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
RoHS：
YES
SN74LVTH18502APMG4 规格
零件状态:
Obsolete
工作温度:
-40°C ~ 85°C
安装类型:
Surface Mount
封装 / 外壳:
64-LQFP
供应商器件封装:
64-LQFP (10x10)
逻辑类型:
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
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