SNJ54BCT8244AFK
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
型号：
SNJ54BCT8244AFK
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（ICs）
> 逻辑
> 专用逻辑
描述：
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
RoHS：
YES
SNJ54BCT8244AFK 规格
零件状态:
Active
安装类型:
Surface Mount
工作温度:
-55°C ~ 125°C
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
封装 / 外壳:
28-CLCC
逻辑类型:
Scan Test Device with Buffers
供应商器件封装:
28-LCCC (11.43x11.43)
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